开发工具和单版机
价格 (不含税价格) | 描述 | 产品详情 |
博通, 评估模块, 光学, 用于NIR 测量 730 → 1080 nm, Qmini 芯片
|
||
博通, 评估模块, 光学, 用于VIS/NIR 测量 480 → 1100 nm, Qmini芯片
|
||
博通, 评估测试板, 评估测试板, 用于评估板, HEDS-9930芯片
|
||
博通, 评估套件, 3D 图像传感器、 紫外线(UV)传感器, 用于HEDS-9955PRGEVB, HEDS-9955EVB芯片
|
||
博通, 评估套件, AFBR-S50MV85G芯片
|
||
Broadcom 评估套件, AFBR-1624Z, AFBR-2624Z芯片, AFBR-0548Z
|
||
博通, 开发套件, 评估套件, 用于AFBR-S20W2UV, AFBR-S20W2UV芯片
|
||
Broadcom 评估套件, HFBR-1412Z, HFBR-2412Z芯片, HFBR-0410Z
|
||
博通, 开发套件, 评估套件, 用于AFBR-S20W2NI, AFBR-S20W2NI芯片
|
||
博通, 开发套件, 评估套件, 用于AFBR-S20M2UV, AFBR-S20M2UV芯片
|
最近搜寻的产品